Sistem de măsurare

Leica EM TXP

EM TXP este un dispozitiv unic, proiectat pentru prepararea precisă a unei game largi de materiale și combinații de materiale cu defecte locale minime. Este special conceput pentru tăierea, frezarea, șlefuirea și lustruirea probelor exigente, mici și dificil de manipulat, acolo unde procesul de lucru este monitorizat cu ajutorul unui stereomicroscop, iar examinarea finală la microscopul electronic cu scanare sau microscopul optic are loc fără întreruperea etapelor de lucru.

EM TXP oferă, printre altele, o soluție excelentă pentru pre-prepararea materialelor pentru care este necesară realizarea unei secțiuni tip pantă cu un sistem de polizare cu ioni.
Fpodpfx Asytrwajdbed

include următoarele accesorii:
1 bucată Stereomicroscop M80 complet
1 bucată Placă cu reticul pentru M80, 12 mm
1 bucată Adaptor mobil pentru obiectiv M80
1 bucată Adaptor pentru reglarea unghiului
1 bucată Disc de tăiere diamantat
1 bucată Disc de tăiere diamantat
1 bucată Freză specială cu tăiș diamantat Ø 6 mm
1 bucată Freză specială cu tăiș diamantat Ø 12 mm
1 bucată Freză specială WC, Ø 8 mm
1 bucată Freză specială WC, Ø 12 mm
5 bucăți Axel/mandrină
3 bucăți Suport pentru foliile de lăcuire
1 bucată Foaie de lăcuire 15µm, SiC, Ø 30 mm
1 bucată Foaie de lăcuire 9µm, SiC, Ø 30 mm
1 bucată Foaie de lăcuire 5µm, SiC, Ø 30 mm
3 bucăți Suport pentru foliile de lăcuire
1 bucată Foaie de lăcuire 9µm, diamant (Tip U)
1 bucată Foaie de lăcuire 2µm, diamant (Tip U)
1 bucată Foaie de lăcuire 0,5µm, diamant (Tip U)
1 bucată Foaie de lăcuire 0,1µm, diamant (Tip LA)
3 bucăți Suport pentru foliile de lăcuire
1 bucată Foaie de lăcuire 9µm, oxid de aluminiu
1 bucată Foaie de lăcuire 3µm, oxid de aluminiu
1 bucată Foaie de lăcuire 1µm, oxid de aluminiu
1 bucată Foaie de lăcuire 0,3µm, oxid de aluminiu
1 bucată Pânză din neopren pentru lustruirea finală (8 buc.)
2 bucăți Cutie pentru suporturi și folii
1 bucată Suport pentru probe plate 0-4 mm
1 bucată Suport pentru preparate plate 3-8 mm
1 bucată Suport TXP SEM STUB
1 bucată Suport universal pentru probe

Anunțul a fost tradus automat. Pot exista erori de traducere.